
Китайская академия наук представила новую архитектуру транзисторов GAA, которая теоретически позволяет приблизиться к характеристикам 3-нм техпроцесса без использования EUV
Новый подход к транзисторам
Архитектура GAA с круговым затвором обеспечивает более точное управление током и снижает утечки по сравнению с FinFET. На установке DUV-литографии новая разработка показала коэффициент включения и выключения более 500 000 раз.
3 нм без EUV
Обычная DUV-литография не способна напрямую формировать элементы уровня 3 нм, поэтому для масштабирования требуются многократные экспозиции и другие методы. В новой архитектуре увеличенное расстояние между транзисторами позволяет сохранить необходимые характеристики и получить так называемый «3-нм эквивалент».
До готового производства ещё далеко
Пока речь идёт о технологической возможности, а не о полноценном выпуске 3-нм микросхем. Разработка решает ограничения на этапе FEOL, где формируются транзисторы, но последующие процессы MEOL и BEOL остаются отдельной сложной задачей.
Главная проблема — промышленный процесс
Особые сложности связаны с металлическими соединениями и разводкой слоя M0, которые также необходимо адаптировать под передовые нормы. Поэтому новая архитектура показывает потенциальный путь развития DUV-технологий, но для массового производства предстоит решить ещё целый ряд задач.Сможет ли DUV-литография действительно приблизиться к массовому производству 3-нм чипов?